霍梅爾-艾達(dá)米克 nanoscan 855
高精的粗糙度和輪廓測(cè)量設(shè)備
Nanoscan 855使用了高科技創(chuàng)新性的光機(jī)測(cè)量設(shè)備。

恒通興業(yè)公司專業(yè)為您推薦德國(guó)霍梅爾 nanoscan855粗糙度和輪廓組合測(cè)量設(shè)備

產(chǎn)品描述：

霍梅爾-艾達(dá)米克 nanoscan 855  

高精的粗糙度和輪廓測(cè)量設(shè)備

Nanoscan 855使用了高科技創(chuàng)新性的光機(jī)測(cè)量設(shè)備。

工件表面接觸掃描的信號(hào)通過(guò)一個(gè)高精的機(jī)械測(cè)桿傳遞到光柵尺，然后再經(jīng)過(guò)激光干涉的原理獲得測(cè)量結(jié)果。這個(gè)創(chuàng)新性設(shè)計(jì)使nanoscan 855成為高精測(cè)量設(shè)備應(yīng)用領(lǐng)域內(nèi)的另一個(gè)選擇。

同時(shí)高效的完成粗糙度和輪廓的測(cè)量

科技創(chuàng)新點(diǎn)

? 電子測(cè)臂可以根據(jù)每一個(gè)測(cè)量任務(wù)電子化自動(dòng)地探測(cè)測(cè)臂，錯(cuò)誤裝載的情況將會(huì)被排除

? 電子測(cè)針保護(hù)裝置（已申請(qǐng)）用電子速度限制器來(lái)防止測(cè)針剛性接觸工件時(shí)發(fā)生的損傷

? 根據(jù)測(cè)尖的不同，電子測(cè)力的可調(diào)設(shè)置可以避免測(cè)量的錯(cuò)誤和測(cè)尖的損傷

? 高精測(cè)臂可定位于小孔測(cè)量以及斷面的自動(dòng)測(cè)量

新的評(píng)估功能

? 粗糙度和輪廓的綜合評(píng)價(jià)

粗糙度和輪廓可以被同時(shí)測(cè)量并顯示在同一個(gè)評(píng)估報(bào)告中。基于大范圍的測(cè)量行程以及可與零件做上下位置的測(cè)量，nanoscan 855是一款及其柔性設(shè)備。

? 上下位置的測(cè)量

復(fù)雜的測(cè)量任務(wù)常常需要上下兩面的單向測(cè)量，這樣的測(cè)量任務(wù)就可以裝載一個(gè)雙向測(cè)針完成，節(jié)省了測(cè)針的方向調(diào)整。它的一個(gè)擴(kuò)展應(yīng)用可以實(shí)現(xiàn)了內(nèi)孔的直徑以及內(nèi)孔曲線的平行度和幾何角度的分析。

? 大行程的形貌測(cè)量

形貌測(cè)量需要一個(gè)大范圍的測(cè)量行程和高分辨率的Y軸（選配）

技術(shù)參數(shù)：

工件表面接觸掃描的信號(hào)通過(guò)一個(gè)高精的機(jī)械測(cè)桿傳遞到光柵尺，然后再經(jīng)過(guò)激光干涉的原理獲得測(cè)量結(jié)果。這個(gè)創(chuàng)新性設(shè)計(jì)使nanoscan 855成為高精測(cè)量設(shè)備應(yīng)用領(lǐng)域內(nèi)的另一個(gè)選擇。

同時(shí)高效的完成粗糙度和輪廓的測(cè)量

科技創(chuàng)新點(diǎn)

? 電子測(cè)臂可以根據(jù)每一個(gè)測(cè)量任務(wù)電子化自動(dòng)地探測(cè)測(cè)臂，錯(cuò)誤裝載的情況將會(huì)被排除

? 電子測(cè)針保護(hù)裝置（已申請(qǐng)）用電子速度限制器來(lái)防止測(cè)針剛性接觸工件時(shí)發(fā)生的損傷

? 根據(jù)測(cè)尖的不同，電子測(cè)力的可調(diào)設(shè)置可以避免測(cè)量的錯(cuò)誤和測(cè)尖的損傷

? 高精測(cè)臂可定位于小孔測(cè)量以及斷面的自動(dòng)測(cè)量

新的評(píng)估功能

? 粗糙度和輪廓的綜合評(píng)價(jià)

粗糙度和輪廓可以被同時(shí)測(cè)量并顯示在同一個(gè)評(píng)估報(bào)告中。基于大范圍的測(cè)量行程以及可與零件做上下位置的測(cè)量，nanoscan 855是一款及其柔性設(shè)備。

? 上下位置的測(cè)量

復(fù)雜的測(cè)量任務(wù)常常需要上下兩面的單向測(cè)量，這樣的測(cè)量任務(wù)就可以裝載一個(gè)雙向測(cè)針完成，節(jié)省了測(cè)針的方向調(diào)整。它的一個(gè)擴(kuò)展應(yīng)用可以實(shí)現(xiàn)了內(nèi)孔的直徑以及內(nèi)孔曲線的平行度和幾何角度的分析。

? 大行程的形貌測(cè)量

形貌測(cè)量需要一個(gè)大范圍的測(cè)量行程和高分辨率的Y軸（選配）

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